La fluorescencia de rayos X (XRF, sigla en inglés) consiste en emisión de rayos X secundarios característicos de un material que ha sido excitado al ser bombardeado con rayos X de alta energía o rayos gama. Este fenómeno es muy utilizado para análisis elemental y análisis químico, particularmente en la investigación de metales, vidrios, cerámicos y materiales de construcción, así como en la de geoquímica, ciencia forense y arqueología.
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